是基于光衍射現(xiàn)象設(shè)計(jì)的，當(dāng)光通過(guò)顆粒時(shí)產(chǎn)生衍射現(xiàn)象（其本質(zhì)是電磁波和物質(zhì)的相互作用）。衍射光的角度與顆粒的大小成反比。
2、粒度：顆粒的大?。?/div>
3、粒度分布：用一定的方法反映出一系列不同粒徑顆粒分別占粉體總量的百分比。
4、粒度分布的表示方法：表格法（區(qū)間分布和累積分布）、圖形法、函數(shù)法，常見(jiàn)的有R-R分布，正態(tài)分布等。
5、粒徑：顆粒的直徑，一般以微米為單位。
6、等效粒徑：指當(dāng)一個(gè)顆粒的某一物理特性與同質(zhì)球形顆粒相同或相近時(shí)，我們就用該球形顆粒的直徑來(lái)代表這個(gè)實(shí)際顆粒的直徑。
激光粒度儀各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)：
1、篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀(guān)、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品。缺點(diǎn)：不能用于40μm以細(xì)的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
2、顯微鏡法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀(guān)、可進(jìn)行形貌分析。缺點(diǎn)：速度慢、代表性差，無(wú)法測(cè)超細(xì)顆粒。
3、沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較大。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)。
4、電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，可測(cè)顆?？倲?shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn)：測(cè)試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應(yīng)具備嚴(yán)格的導(dǎo)電特性。
5、電鏡法：優(yōu)點(diǎn)：適合測(cè)試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。缺點(diǎn)：樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
6、超聲波法：優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接測(cè)量。缺點(diǎn)：分辨率較低。
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